|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficient phase matching algorithm for measurements of ultrathin indium tin oxide film thickness in white light interferometry |
| Auteur: |
Chen, Kai Lei, Feng Itoh, Masahide |
| Verschenen in: |
Optical review |
| Paginering: | Jaargang 24 (2017) nr. 2 pagina's 121-127 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Japan, Tokyo |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |