|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Laser Induced Stress Wave Thermometry for In-situ Temperature and Thickness Characterization of Single Crystalline Silicon Wafer: Part I—Theory and Apparatus |
| Auteur: |
Vedantham, V. Suh, C. S. Chona, R. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 51 (2010) nr. 7 pagina's 1103-1114 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |