Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
 
 
  Laser Induced Stress Wave Thermometry for In-Situ Temperature and Thickness Characterization of Single Crystalline Silicon Wafer Part II – Experimental Results
 
 
Titel: Laser Induced Stress Wave Thermometry for In-Situ Temperature and Thickness Characterization of Single Crystalline Silicon Wafer Part II – Experimental Results
Auteur: Vedantham, V.
Suh, C. S.
Chona, R.
Verschenen in: Experimental mechanics
Paginering: Jaargang 51 (2010) nr. 7 pagina's 1115-1122
Jaar: 2010
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 19 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland