|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Wrinkle-Based Measurement of Elastic Modulus of Nano-Scale Thin Pt Film Deposited on Polymeric Substrate: Verification and Uncertainty Analysis |
| Auteur: |
Choi, H-J. Kim, J-H. Lee, H-J. Song, S-A. Lee, H-J. Han, J-H. Moon, M-W. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 50 (2009) nr. 5 pagina's 635-641 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
| << vorige |