Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
 
 
  Wrinkle-Based Measurement of Elastic Modulus of Nano-Scale Thin Pt Film Deposited on Polymeric Substrate: Verification and Uncertainty Analysis
 
 
Titel: Wrinkle-Based Measurement of Elastic Modulus of Nano-Scale Thin Pt Film Deposited on Polymeric Substrate: Verification and Uncertainty Analysis
Auteur: Choi, H-J.
Kim, J-H.
Lee, H-J.
Song, S-A.
Lee, H-J.
Han, J-H.
Moon, M-W.
Verschenen in: Experimental mechanics
Paginering: Jaargang 50 (2009) nr. 5 pagina's 635-641
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 12 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland
Toegankelijkheidsverklaring