|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
FTIR absorption spectroscopy as a novel method for thin film deposition rate measurement |
| Auteur: |
Reichenbacher, Thomas Schuetz, Simon Stasewitsch, Ilja Fabig, Stephan |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 114 (2013) nr. 4 pagina's 1295-1301 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |