|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Identifying the critical cut-points of a quality control process for serological assays: results from parametric and semiparametric regression models |
| Auteur: |
Wand, Handan Dimech, Wayne Freame, Robert Smeh, Kathy |
| Verschenen in: |
Accreditation and quality assurance |
| Paginering: | Jaargang 22 (2017) nr. 4 pagina's 191-198 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |