|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault Tolerant Reversible T Latch with Enhanced Testability at Nano-Scale for Application of Ripple Counters |
| Auteur: |
Singh, Pankaj Singh, Rupali |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 50 () nr. 6 pagina's 439-451 |
| Jaar: |
2021-12-16 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |