|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Studying the uniformity of the surface resistance of Ti, Al, Ni, Cr, and Au metal films on silicon |
| Auteur: |
Vanyukhin, K. D. Kobeleva, S. P. Kontsevoi, Yu. A. Kurmachev, V. A. Seidman, L. A. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 42 (2013) nr. 8 pagina's 483-487 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |