|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of a Quantum Well in an Si/Si1–xGex/Si Heterostructure by X-ray Diffractometry |
| Auteur: |
Afanas'ev, A. M. Boltaev, A. P. Imamov, R. M. Mukhamedzhanov, E. Kh. Rzaev, M. M. Chuev, M. A. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 31 (2001) nr. 1 pagina's 1-6 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |