|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron Microscopy Study of Ferroelectric Memory Based on SiSiO2TiPtPZT Multilayer Structure |
| Auteur: |
O. M. Zhigalina P. V. Burmistrova A. L. Vasil'ev V. V. Roddatis K. A. Vorotilov A. S. Sigov |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2001) nr. 3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001-05/06-/06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |