|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron Microscopy Study of Ferroelectric Memory Based on Si–SiO2–Ti–Pt–PZT Multilayer Structure |
| Auteur: |
Zhigalina, O. M. Burmistrova, P. V. Vasil'ev, A. L. Roddatis, V. V. Vorotilov, K. A. Sigov, A. S. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 30 (2001) nr. 3 pagina's 175-186 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |