|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical Investigation of the Influence of the Structural Parameters of the Optoelectronic Path of a Thermal-Imaging Device on Its Characteristics |
| Auteur: |
Krutikov, V. N. |
| Verschenen in: |
Measurement techniques |
| Paginering: | Jaargang 46 (2003) nr. 2 pagina's 128-135 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |