|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 49 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Morphological, optical, and electrical characterizations and cryogenic reliability tests on AlInGaP red light emitting diodes immersed in liquid nitrogen |
| Auteur: |
Lee, Ming-Ling Hsieh, Pei-Shu Chen, Cheng-Shan Zhang, Hao-Zhu Chen, Po-Yuan Yang, Chun-Yen Wu, Ming-Jhe Lin, Chia-Feng Hsu, Hai-Wen Kuo, Ming-Yu Chen, Hsiang |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 24 pagina's 28287-28296 |
| Jaar: |
2021-10-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 49 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |