|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of shallow cobalt-silicided junctions |
| Auteur: |
Simoen, E. Poyai, A. Claeys, C. Lukyanchikova, N. Petrichuk, M. Garbar, N. Czerwinski, A. Katcki, J. Ratajczak, J. Gaubas, E. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2001) nr. 4-6 pagina's 207-210 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |