|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of Si+ and Si+/P+ implanted N+P+In0.53Ga0.47As junctions |
| Auteur: |
Blanco, M. N. Redondo, E. Leo´n, C. Santamaria, J. Gonza´lez-Diaz, G. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (1999) nr. 5-6 pagina's 425-428 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |