|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved Pseudo-Random Fault Coverage Through Inversions: a Study on Test Point Architectures |
| Auteur: |
Roy, Soham Stiene, Brandon Millican, Spencer K. Agrawal, Vishwani D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 36 () nr. 1 pagina's 123-133 |
| Jaar: |
2020-02-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |