|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Level Constrained Optimization of Analog and Radio Frequency Specification Tests |
| Auteur: |
Sindia, Suraj Agrawal, Vishwani D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 5-6 pagina's 479-489 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |