|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
A Test-Ordering Based Temperature-Cycling Acceleration Technique for 3D Stacked ICs |
| Auteur: |
Aghaee, Nima Peng, Zebo Eles, Petru |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 5-6 pagina's 503-523 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |