|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
An Accurate and Cost-Effective Jitter Measurement Technique Using a Single Test Frequency |
| Auteur: |
Wu, Minshun Chen, Degang Duan, Jingbo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2012) nr. 5 pagina's 733-743 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |