|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
On Selecting Testable Paths in Scan Designs |
| Auteur: |
Shao, Yun Reddy, Sudhakar M. Pomeranz, Irith Kajihara, Seiji |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 4 pagina's 447-456 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |