|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
On Selecting Testable Paths in Scan Designs |
| Auteur: |
Yun Shao Sudhakar M. Reddy Irith Pomeranz Seiji Kajihara |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 4 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2003-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |