|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Using At-Speed BIST to Test LVDS Serializer/Deserializer Function |
| Auteur: |
Eckersand, Magnus Franzon, Fredrik Filliter, Ken |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 2 pagina's 171-177 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
| << vorige |