Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
 
 
  New BIST Schemes for Structural Testing of Pipelined Analog to Digital Converters
 
 
Titel: New BIST Schemes for Structural Testing of Pipelined Analog to Digital Converters
Auteur: Peralías, Eduardo J.
Rueda, Adoración
Huertas, José L.
Verschenen in: Journal of electronic testing
Paginering: Jaargang 17 (2001) nr. 5 pagina's 373-383
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland