|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
New BIST Schemes for Structural Testing of Pipelined Analog to Digital Converters |
| Auteur: |
Eduardo J. Peralías Adoración Rueda José L. Huertas |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 17 (2001) nr. 5 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2001-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |