|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A Combined Clustering and Neural Network Approach for Analog Multiple Hard Fault Classification |
| Auteur: |
El-Gamal, M.A. El-Yazeed, M.F. Abu |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 14 (1999) nr. 3 pagina's 207-217 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |