|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Testability of 2-Level AND/EXOR Circuits |
| Auteur: |
Drechsler, Rolf Hengster, Harry Schäfer, Horst Hartmann, Joachim Becker, Bernd |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 14 (1999) nr. 3 pagina's 219-225 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |