Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Testability of 2-Level AND/EXOR Circuits
 
 
Titel: Testability of 2-Level AND/EXOR Circuits
Auteur: Rolf Drechsler
Harry Hengster
Horst Schäfer
Joachim Hartmann
Bernd Becker
Verschenen in: Journal of electronic testing
Paginering: Jaargang 14 (1999) nr. 3 pagina's 7 p.
Jaar: 1999-06
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 17 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland