|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Hierarchical VLSI Fault Tracing by Successive Circuit Extraction from CAD Layout Data in the CAD-Linked EB Test System |
| Auteur: |
Miura, Katsuyoshi Nakamae, Koji Fujioka, Hiromu |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 10 (1997) nr. 3 pagina's 255-269 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |