|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Hierarchical VLSI Fault Tracing by Successive CircuitExtraction from CAD Layout Data in the CAD-Linked EB TestSystem |
| Auteur: |
Katsuyoshi Miura Koji Nakamae Hiromu Fujioka |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 10 (1997) nr. 3 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
1997-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |