|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
An analysis of interface trap charges to improve the reliability of a charge-plasma-based nanotube tunnel FET |
| Auteur: |
Gedam, Anju Acharya, Bibhudendra Mishra, Guru Prasad |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 () nr. 3 pagina's 1157-1168 |
| Jaar: |
2021-04-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |