|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Impacts of core gate thickness and Ge content variation on the performance of Si1−xGex source/drain Si–nanotube JLFET |
| Auteur: |
Thakur, Anchal Dhiman, Rohit |
| Verschenen in: |
Journal of computational electronics |
| Paginering: | Jaargang 20 () nr. 1 pagina's 237-247 |
| Jaar: |
2021-01-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |