|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of palladium-related defects in silicon |
| Auteur: |
Dogra, R. Byrne, A. P. Brett, D. A. Ridgway, M. C. |
| Verschenen in: |
Hyperfine interactions |
| Paginering: | Jaargang 177 (2008) nr. 1-3 pagina's 33-37 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| volgende >> |