|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Yield analysis for self-repairable MEMS devices |
| Auteur: |
Xiong, Xingguo Wu, Yu-Liang Jone, Wen-Ben |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 56 (2008) nr. 1-2 pagina's 71-81 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| << vorige |