Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
 
 
  Rapid detection of capture and emission processes in surface and buffer traps: Understanding dynamic degradation in GaN power devices
 
 
Titel: Rapid detection of capture and emission processes in surface and buffer traps: Understanding dynamic degradation in GaN power devices
Auteur: Yao, Yixu
Huang, Sen
Jiang, Qimeng
Wang, Xinhua
Huang, Yifei
Pei, Yi
Qian, Hongtu
Zhang, Hui
Guo, Fuqiang
Shen, Bo
Liu, Xinyu
Verschenen in: Power electronic devices and components
Paginering: Jaargang 8 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: The Authors
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland