|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Rapid detection of capture and emission processes in surface and buffer traps: Understanding dynamic degradation in GaN power devices |
| Auteur: |
Yao, Yixu Huang, Sen Jiang, Qimeng Wang, Xinhua Huang, Yifei Pei, Yi Qian, Hongtu Zhang, Hui Guo, Fuqiang Shen, Bo Liu, Xinyu |
| Verschenen in: |
Power electronic devices and components |
| Paginering: | Jaargang 8 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| << vorige |