|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ monitoring of stress change in GeTe thin films during thermal annealing and crystallization |
| Auteur: |
Ben Yahia, B. Amara, M.S. Gallard, M. Burle, N. Escoubas, S. Guichet, C. Putero, M. Mocuta, C. Richard, M.-I. Chahine, R. Sabbione, C. Bernard, M. Fellouh, L. Noé, P. Thomas, O. |
| Verschenen in: |
Micro and nano engineering |
| Paginering: | Jaargang 1 (2018) nr. C pagina's 63-67 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |