|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale investigations: Surface potential of rare-earth oxide (Re2O3) thin films by kelvin probe force microscopy for next generation CMOS technology |
| Auteur: |
Kumar, Pawan Khosla, Robin Sharma, Satinder K. |
| Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
| Paginering: | Jaargang 4 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |