|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural characterization of magnetron sputtered ZnO thin films on Si(100) using RBS, scanning and high resolution transmission electron microscopy methods |
| Auteur: |
Nagabharana, R.M. Kiran, N. Guha, Puspendu Sundaravel, B. Bhatta, Umananda M. |
| Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
| Paginering: | Jaargang 15 (2019) nr. C pagina's 239-243 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |