|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Electric bias-induced edge degradation of few-layer MoS2 devices |
| Auteur: |
Thiele, Sebastian Eliseyev, Ilya A. Smirnov, Alexander N. Jacobs, Heiko O. Davydov, Valery Y. Schwierz, Frank Pezoldt, Jörg |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 53 () nr. P2 pagina's 281-284 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |