|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect-induced Stress Imaging in Single and Multi-crystalline Semiconductor Materials |
| Auteur: |
Herms, Martin Wagner, Matthias Kayser, Stefan Kießling, Frank M. Poklad, Anna Zhao, Ming Kretzer, Ulrich |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 5 (2018) nr. 6P3 pagina's 14748-14756 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |