|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Fast inline inspection by Neural Network Based Filtered Backprojection: Application to apple inspection |
| Auteur: |
Janssens, Eline Alves Pereira, Luis F. De Beenhouwer, Jan Tsang, Ing Ren Van Dael, Mattias Verboven, Pieter Nicolaï, Bart Sijbers, Jan |
| Verschenen in: |
Case studies in nondestructive testing and evaluation |
| Paginering: | Jaargang 6 (2016) nr. PB pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |