|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 47 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation and improvement of single-event burn-out in 4H-SiC trench insulated gate bipolar transistors |
| Auteur: |
Liu, Yan-juan Wang, Ying Wang, Yu-peng Wang, Le-ning |
| Verschenen in: |
Results in physics |
| Paginering: | Jaargang 29 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 47 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |