|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 170 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis on image features for a standard edge by using polarization indirect microscopic system |
| Auteur: |
Wang, Weize De La Rue, Richard M. Yadav, N.P. Shen, Zhe Cao, Yun Liu, Juan Liu, Xuefeng Xu, Bin |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 178 (2019) nr. C pagina's 363-371 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 170 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |