|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Performance evaluation of patch group-based denoising algorithm using prior learning stage with K-edge imaging technique in CdTe photon counting spectral X-ray system: A Monte Carlo simulation study |
| Auteur: |
Lee, Youngjin |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 174 () nr. C pagina's 173-177 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |