|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 59 van 149 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot-carrier reliability on the optical characteristics of gate stack gate all-around (GSGAA) MOSFET considering quantum mechanical effects |
| Auteur: |
Madheswaran, M. Ramesh, R. Kannan, K. |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 127 (2016) nr. 5 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 59 van 149 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |