|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 88 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Resistance hysteresis loop characteristic analysis of VO2 thin film for high sensitive microbolometer |
| Auteur: |
Chen, Xiqu Lv, Qiang |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 126 (2015) nr. 20 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 88 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |