|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Improving the reliability of chip-off forensic analysis of NAND flash memory devices |
| Auteur: |
Fukami, Aya Ghose, Saugata Luo, Yixin Cai, Yu Mutlu, Onur |
| Verschenen in: |
Digital investigation |
| Paginering: | Jaargang 20 (2017) nr. S pagina's S1-S11 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Aya Fukami, Saugata Ghose, Yixin Luo, Yu Cai, Onur Mutlu |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |