|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Classification of Individual Particles Based on Computer-Controlled Scanning Electron Microscopy Data |
| Auteur: |
Kim, D. Hopke, P. K. |
| Verschenen in: |
Aerosol science and technology |
| Paginering: | Jaargang 9 (1988) nr. 2 pagina's 133-151 |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: |
Computer-controlled scanning electron microscopy (CCSEM) is known as a powerful tool for measuring individual particle characterization, including various size parameters and the major elemental composition in a short analysis time. To exploit CCSEM as a receptor-modeling technique in a source apportionment study, it is important to define the membership of each particle in a well-defined particle class. Various clustering methods were examined to obtain possible members of homogeneous particle classes. An expert system was then used to build a universal classification rule based on examples of the homogeneous particle classes. These methods were extensively explored and tested using data from a study of El Paso, TX. |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring