|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessment of techniques for characterizing the surface quality of ground silicon nitride |
| Auteur: |
Zanoria, E. S. Watkins, T. R. Breder, K. Riester, L. Bashkansky, M. Reintjes, J. Sun, J. G. Ellingson, W. A. Blau, P. J. |
| Verschenen in: |
Journal of materials engineering and performance |
| Paginering: | Jaargang 7 (1998) nr. 4 pagina's 533-547 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |