|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Characterization Through Automated Laser Track Trace Identification in SLM Processes Using Laser Profilometer Data |
| Auteur: |
Baucher, Brandon Chaudhary, Anil B. Babu, Sudarsanam S. Chakraborty, Subhadeep |
| Verschenen in: |
Journal of materials engineering and performance |
| Paginering: | Jaargang 28 (2019) nr. 2 pagina's 717-727 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 69 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |