|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
A Multiple-Trapping-and-Release Transport Based Threshold Voltage Model for Oxide Thin Film Transistors |
| Auteur: |
Desai, Mohil S. Kandpal, Kavindra Goswami, Rupam |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 50 () nr. 7 pagina's 4050-4057 |
| Jaar: |
2021-04-23 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |